El pasado 18 de diciembre, previo al inicio de las vacaciones navideñas, Nova Cartografía tuvo el placer de participar en las Jornadas de Formación y Orientación Laboral del CIPFP Vicente Blasco Ibáñez de Valencia. Durante esta jornada, parte del equipo presentó una demostración práctica de las aplicaciones del escaneo láser en el ámbito de la topografía, despertando gran interés entre el alumnado.

La actividad se inició con una ponencia introductoria a cargo de nuestro gerente, Jose Cuesta Mejias , quien ofreció a los alumnos una visión general de Nova Cartografia introduciéndolos en algunos de nuestros proyectos más destacados.

Fue una oportunidad única para presentar nuestra empresa, detallar los servicios que ofrecemos, los proyectos en los que hemos participado y el valor tan importante que aporta nuestro equipo.

Posteriormente, realizamos una demostración práctica de escaneado láser, permitiendo a los estudiantes observar de cerca esta tecnología y resolver sus dudas in situ. Empleamos un escáner láser para digitalizar la escalinata del vestíbulo del centro desde múltiples ángulos.

A continuación, volvimos al aula para analizar juntos los resultados obtenidos y compartimos las imágenes capturadas con los estudiantes.

Nuestra compañera de RRHH, Ana Carrascosa Navarro , finalizó la presentación poniendo de manifiesto la relevancia del capital humano en Nova Cartografia. Abordó cuestiones clave como los requisitos para formar parte de nuestro equipo, las oportunidades de desarrollo profesional que ofrecemos y la cultura de equipo que promovemos.

Para terminar y hacer la jornada más interactiva, organizamos un pequeño concurso sobre topografía y premiamos a los ganadores. ¡Fue muy divertido ver cómo los estudiantes ponían a prueba sus conocimientos! Y por supuesto, hubo premios para los ganadores.

Fue una jornada llena de aprendizaje, diversión y tecnología.

¡Una experiencia enriquecedora para tod@s!

¡Seguimos!